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改性塑料試驗(yàn)設(shè)備

電壓擊穿試驗(yàn)儀耐電弧測(cè)試儀絕緣電阻試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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HCDH-III介質(zhì)材料耐電弧測(cè)定儀

更新時(shí)間：2025-01-02

型號(hào)：HCDH-III

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介質(zhì)材料耐電弧測(cè)定儀適應(yīng)于電機(jī)、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹(shù)脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測(cè)試；耐電弧試驗(yàn)機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制，試驗(yàn)過(guò)程中可在線(xiàn)觀察試驗(yàn)曲線(xiàn)；自動(dòng)存儲(chǔ)試驗(yàn)條件及試驗(yàn)結(jié)果等數(shù)據(jù)，并可存取、顯示、打印。本試驗(yàn)儀器采用上位機(jī)控制，操控軟件采用LabVIEW編寫(xiě)，人性、智能化。
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HCLD-III固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)量?jī)x器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCLD-III

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固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)量?jī)x器，是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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HCLD-III固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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HCLD-III工程塑料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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工程塑料高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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HCLD-III反應(yīng)快高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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反應(yīng)快高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH 4 CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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HCLD-IIIHC 高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

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HCLD-III北京華測(cè)試驗(yàn)儀器高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀

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型號(hào)：HCLD-III

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北京華測(cè)試驗(yàn)儀器高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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HCLD-III電工電子高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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電工電子高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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